FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL
Neu
Das Produkt kann je nach Modell oder Ausstattung variieren.
für maximalen Durchsatz
in seiner Klasse für hervorragende Stabilität
für perfekte Probenhandhabung
Maßgeschneidert für großflächige Leiterplatten. Ausgelegt auf maximalen Durchsatz.
Schnell, präzise und zuverlässig – das ist unser FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL! Als "großer Bruder" unseres bewährten FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB meistert das leistungsstarke Gerät anspruchsvolle Anwendungen mit großformatigen Leiterplatten und überzeugt dabei mit marktführender Messgenauigkeit und hohem Durchsatz. Ausgestattet mit dem größten Messbereich in seiner Geräteklasse, einer inhouse gefertigten Polykapillaroptik, einem großen Silizium-Drift-Detektor und der Mikrofokusröhre Ultra bietet das Gerät alles, was Sie für eine hochwertige Qualitätskontrolle von selbst feinsten Strukturen und dünnsten Beschichtungen wie ENIG, ENEPIG, Immersionssilber oder Immersionszinn benötigen. Entdecken Sie Ihre Messlösung für Leiterplattenformate, bei denen Standardmesssysteme an ihre Grenzen stoßen!
Messen Sie großformatige Leiterplatten mit einem einzigen System.
Größter Messbereich in seiner Klasse: 610 × 610 mm (24 × 24 in) ermöglicht eine einmalige Positionierung
Vakuumfixierung für perfekte Probenhandhabung.
Selbst dünnste Leiterplatten werden sicher fixiert, ohne dass eine Neupositionierung erforderlich ist (optional)
Freihändiges Zurückfahren des Tisches – mehr als nur Komfort.
Effiziente und sichere Handhabung großformatiger Leiterplatten bei RFA-Messungen dank Fußschalter
Bereit für die Smart Factory.
Lässt sich nahtlos in automatisierte Fertigungslinien integrieren – oder als Stand-alone-Gerät einsetzen
Die richtige Messposition – ganz automatisch.
Intelligente Mustererkennung beschleunigt Messabläufe und minimiert manuelle Eingriffe durch den Bediener
Marktführende Messgenauigkeit.
Langfristig genaue und reproduzierbare Messergebnisse
Hervorragende Rahmenkonstruktion.
Robuste Komponenten in Industriequalität und bewährtes, langlebiges Design für überragende Stabilität
Zuverlässige, IPC-konforme Ergebnisse.
Entspricht den relevanten IPC-Standards für Leiterplattenbeschichtungen und gewährleistet so maximale Prozesssicherheit und Qualitätssicherung
Schichtdicken schnell, präzise und zuverlässig messen mit dem neuen FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL.
Speziell für großformatige Leiterplatten entwickelt. Ausgelegt auf maximalen Durchsatz.
Einmal positionieren und anspruchsvolle Leiterplatten mit einem einzigen System messen – dank größtem Messbereich in seiner Geräteklasse mit 610 × 610 mm (24 × 24 in). Selbst dünnste Leiterplatten werden mit Vakuumfixierung (optional) sicher in Position gehalten.
Mithilfe des Fußschalters lässt sich der Tisch freihändig zurückfahren – für eine sichere und effiziente Handhabung großformatiger Leiterplatten während Ihrer RFA-Messungen.
Die intelligente Mustererkennung ermittelt automatisch die richtige Messposition, beschleunigt den Prozess und minimiert manuelle Bedienereingriffe.
Robuste Komponenten in Industriequalität für höchste Stabilität und bewährte Langlebigkeit.
Merkmale
Mikrofokusröhre Ultra mit Wolframanode für noch höhere Leistung bei kleinsten Spots; Molybdänanode optional
4-fach wechselbarer Filter
Bis zu 10 mm Probenhöhe möglich
Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke bei kurzen Messzeiten mit hoher Anregungsintensität
Messfleck ca. Ø 10 µm oder 17 µm (FWHM)
Hochpräziser, programmierbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm, optional mit Vakuumfixierung
Silizium-Drift-Detektor mit 20 mm² oder 50 mm² für höchste Präzision bei dünnen Schichten
DPP+ für höchste Präzision auch bei kurzen Messzeiten
Fußschalter zur Aktivierung der Tischausfahrfunktion
Anwendungsbeispiele
- Messung an kleinsten flachen Bauteilen und Strukturen auf Leiterplatten mit Maßen von bis zu 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Analyse sehr dünner Beschichtungen, wie z.B. Gold-/Palladiumschichten mit ≤ 3 nm oder 10 nm
- Automatisierte Messung, z.B. in der Qualitätskontrolle
- Mit der Option einer 10 μm Polykapillaroptik: Messung mit kleinstem Messfleck in Kombination mit einem großen Silizium-Drift-Detektor
- Mit der Option der Vakuumfixierung: Messung auf flexiblen Leiterplatten
- Vollständig konform mit den IPC-Standards 4552 und 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (Silber) und 4554 (Zinn)
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Application Notes
Tutorial Notes
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Application Notes
AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 Worauf bei der Wahl eines Röntgenfluoreszenzanalyse Geräts zu achten ist 1.25 MB AN105 μ-Spot-Messungen von Zinn- und Zinnlegierungsschichten auf Leiterplatten 0.82 MB AN111 Messung dünnster Beschichtungen und feinster Strukturen auf großformatigen Leiterplatten 3.18 MBTutorial Notes
Tutorials
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von RöntgenfluoreszenzmessgerätenFISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung StabilitätstestFISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versendenFISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versendenWebinare
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