FISCHERSCOPE® XDV®
Neu
dank optimierter Messgeometrie
Probenpositionierung
und Nutzerführung mit der FISIQ® X Software
Geschwindigkeit trifft Präzision.
Entwickelt für maximale Geschwindigkeit, höchste Präzision und intuitive Bedienung – so leiten wir die neue XRF-Gerätegeneration ein mit unserem FISCHERSCOPE® XDV®. Als eine unserer High-End-XRF-Lösungen ist das Gerät auf präzise Messungen an Mikrostrukturen spezialisiert. In Kombination mit unserer hochmodernen FISIQ® X Software liefert das Gerät eine herausragende Messperformance. Zudem sorgen vereinfachte und effiziente Workflows für reibungslose Messprozesse und einen deutlich höheren Durchsatz in Ihrer Qualitätskontrolle.
Blitzschnelle Probenpositionierung.
High-Speed-Z-Achse 6 x schneller*
Rasche Probenerfassung.
Autofokus unter 2 Sekunden – 14 x schneller*
Automatisierter Betrieb.
Automatisierte Messhaube oder manuelle Bedienung für maximale Flexibilität
Optimale Probenausleuchtung und Bilderfassung.
10 x höhere Kameraauflösung und Mehrzonen-LED-Beleuchtung
* Im Vergleich zum FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
Überragend hohe Präzision und wiederholgenaue Ergebnisse.
Optimierte Messgeometrie
Gerätestatus immer sichtbar.
Intuitive 180°-Statusbeleuchtung
Verbesserte Benutzerfreundlichkeit und Nutzerführung.
Neue FISIQ® X Software
Behalten Sie jederzeit alles im Blick dank der hochauflösenden Übersichtskamera. Ob matte, glänzende oder reflektierende Oberflächen – die Mehrzonen-LED-Beleuchtung sorgt für eine exakte Ausleuchtung aller Details.
Wählen Sie zwischen manueller oder automatisierter Messung – mit der motorisierten Haube sind Sie rundum flexibel!
Erkennen Sie den Gerätestatus auf einen Blick dank intuitiver Statusbeleuchtung: Standby (blau), messbereit (grün) oder aktive Messung (orange pulsierend).
Profitieren Sie von herausragender Messgenauigkeit und erhalten Sie zuverlässige, hochwertige Ergebnisse dank des optimierten Abstands zwischen Röntgenröhre, Probe und Detektor.
Erzielen Sie schnelle, hochpräzise Messungen mit vereinfachten und effizienten Workflows – selbst bei besonders anspruchsvollen Anwendungen wie der Wafer-Analyse.
Lernen Sie jetzt unsere FISIQ® X kennen – die erste XRF-Software mit KI-Technologie!
Merkmale
Mikrofokusröhre mit Wolframanode, andere Anoden auf Anfrage erhältlich
Silizium-Drift-Detektor 50 mm² für höchste Präzision bei dünnen Schichten
Automatisierte Haube und programmierbarer Messtisch für automatisierte Messungen
4-fach wechselbare Blende und 6-fach wechselbarer Filter
Einzelabnahme als Vollschutzgerät
Software FISIQ® X mit KI-gestütztem Spektrummodus für smartere Messabläufe
Stufenloser Messabstand mit Messung von oben
Bis zu 140 mm Probenhöhe möglich
Anwendungsbeispiele
- Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen, z.B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 50 nm
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z.B. Bestimmung der Schichtdicke von Goldschichten bis herab zu 2 nm bei Lead-Frames
- Messung ultradünner Beschichtungen auf Siliziumwafern
- Bestimmung leichter Elementbeschichtungen auf Wafern (Al, Ti, NiP)
- Brennstoffzellen- und Batteriefolien: Metalle (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) in organischer Matrix (Carbon)
- Goldanalyse mit höchsten Anforderungen
- Messung von komplexen Mehrschichtsystemen
- Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle
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