FISCHERSCOPE® XDAL®
Neu
dank optimierter Messgeometrie
Probenpositionierung
und Nutzerführung mit der FISIQ® X Software
Einfachste Handhabung, maximale Geschwindigkeit und Präzision.
Wenn es auf höchste Präzision ankommt, setzt unser FISCHERSCOPE® XDAL® neue Maßstäbe. Das innovative Nachfolgegerät unseres FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® eignet sich ideal für Anwendungen im Bereich dünner und sehr dünner Beschichtungen < 0,05 μm und zur Materialanalyse im ppm-Bereich. Sie haben die Wahl zwischen den Modellen XDAL® 650, ausgestattet mit unserem leistungsstarken Silizium-Drift-Detektor 50 mm², und dem XDAL® 620, ausgestattet mit einem Silizium-Drift-Detektor mit 20 mm². In Kombination mit unserer hochmodernen XRF-Software FISIQ® X sorgt diese High-End-Lösung für einen reibungslosen Messablauf, mehr Komfort, Sicherheit und maximalen Durchsatz.
Blitzschnelle Probenpositionierung.
High-Speed-Z-Achse 6 x schneller*
Rasche Probenerfassung.
Autofokus unter 2 Sekunden – 14 x schneller*
Automatisierter Betrieb.
Automatisierte Messhaube oder manuelle Bedienung für maximale Flexibilität
Optimale Probenausleuchtung und Bilderfassung.
10 x höhere Kameraauflösung und Mehrzonen-LED-Beleuchtung
* Im Vergleich zum FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Überragend hohe Präzision und wiederholgenaue Ergebnisse.
Optimierte Messgeometrie
Gerätestatus immer sichtbar.
Intuitive 180°-Statusbeleuchtung
Verbesserte Benutzerfreundlichkeit und Nutzerführung.
Neue FISIQ® X Software
Große Teile.
C-Slot-Gehäuse erlaubt die Messung großer Teile
Optimale Probenausleuchtung und Bilderfassung dank hochauflösender Übersichtskamera und Mehrzonen-LED-Beleuchtung.
Messen Sie manuell oder automatisiert dank motorisierter Haube.
Behalten Sie jederzeit die volle Kontrolle! Die Statusbeleuchtung signalisiert Ihnen auf einen Blick, in welchem Modus sich Ihr Gerät befindet: Standby (blau), messbereit (grün) oder aktive Messung (orange pulsierend).
Die optimierte Messdistanz zwischen Röntgenröhre, Probe und Detektor sorgt für maximale Intensität und garantiert Ihnen eine herausragende Messgenauigkeit – für zuverlässige und hochwertige Ergebnisse.
Steigern Sie Ihre Produktivität mit vereinfachten und effizienten Workflows. Lernen Sie jetzt unsere FISIQ® X kennen – die erste XRF-Software mit KI-Technologie!
Merkmale
Mikrofokusröhre mit Wolframanode, andere Anoden auf Anfrage erhältlich
C-Schlitz-Gehäuse für Messungen an größeren Proben
Silizium-Drift-Detektor 20 mm² oder 50 mm² für höchste Präzision bei dünnen Schichten
4-fach wechselbare Blende und 6-fach wechselbarer Filter
Einzelabnahme als Vollschutzgerät
Software FISIQ® X mit KI-gestütztem Spektrummodus für smartere Messabläufe
Stufenloser Messabstand mit Messung von oben
Bis zu 140 mm Probenhöhe möglich
Automatisierte Haube und programmierbarer Messtisch für automatisierte Messungen
Anwendungsbeispiele
- Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen von ≤ 0,1 μm
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z.B. auf Lead-Frames, Steckkontakten oder Leiterplatten
- Messung komplexer Mehrschichtsysteme
- Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle
- Bestimmung des Bleigehalts in Loten
- Bestimmung des Phosphor-Gehaltes in NiP-Schichten
- Bestimmung von PCB-Veredelungen
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