FISCHERSCOPE® XDAL®
Neu
schnellere Positionierung
schnellerer Autofokus
höhere Kameraauflösung
¹ Im Vergleich zum FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
² Abhängig von der Probenoberfläche.
Einfachste Handhabung, maximale Geschwindigkeit und Präzision.
Das FISCHERSCOPE® XDAL® eignet sich ideal für Anwendungen im Bereich dünner und sehr dünner Beschichtungen < 0,05 μm und zur Materialanalyse im ppm-Bereich. Die Geräteversion ist mit der neuesten Generation leistungsfähiger Detektoren, einem 50 mm² Silizium-Drift-Detektor ausgestattet. Eine intuitive Statusbeleuchtung und die automatisierte Messhaube sorgen zusammen mit der modernen XRF-Software FISIQ® X für einen reibungslosen Messablauf – für mehr Komfort, Sicherheit und maximalen Durchsatz.
High-Speed-Z-Achse.
Für eine schnelle Positionierung Ihrer Proben
Autofokus unter 2 Sekunden.
Schnelle Erfassung und Fokussierung Ihres Messobjekts für noch effizientere Messabläufe
Hochauflösende Übersichtskamera.
Besser den Überblick behalten mit schärferen und detaillierteren Bildern
Mehrzonen-LED-Beleuchtung.
Stets die perfekte Ausleuchtung, egal bei welcher Oberfläche
Automatisierte Messhaube.
Komfortable Bedienung und maximale Flexibilität für Ihr tägliches Doing
Optimierte Messgeometrie.
Unübertroffene Messgenauigkeit dank verbessertem Abstand zwischen Röhre, Probe und Detektor
Intuitive Statusbeleuchtung.
Erkennen Sie den Gerätezustand bequem auf einen Blick
Detailkamera mit LED-Mehrzonenbeleuchtung: optimale Beleuchtung für alle Probenoberflächen (matt, glänzend, spiegelnd).
Motorisierte Haube, die per Knopfdruck oder softwaregesteuert geöffnet und geschlossen werden kann. Für reibungslose und effiziente Prozesse.
Ein verbesserter Abstand zwischen Röntgenröhre, Probe und Detektor sorgt für eine maximale Intensität und gewährleistet eine unvergleichbare Messgenauigkeit – für maximal zuverlässige und hochwertige Ergebnisse.
Die LED-Lichtleiste zeigt den Status des Geräts auf einen Blick an. Blaues Licht signalisiert den Standby-Modus, grün ein messbereites Gerät und pulsierendes Orange zeigt eine laufende Messung an.
FISIQ® X: Die moderne und erste XRF-Software mit KI-gestütztem Spektrummodus. Steigern Sie Ihre Produktivität mit vereinfachten und effizienten Arbeitsabläufen.
Merkmale
Mikrofokusröhre mit Wolframanode, andere auf Anfrage erhältlich
C-Schlitz-Gehäuse für Messungen an größeren Proben
Silizium-Drift-Detektor 20 mm² oder 50 mm² für höchste Präzision bei dünnen Schichten
4-fach wechselbare Blende und 6-fach wechselbarer Filter
Bauartzugelassenes Vollschutzgerät
Software FISIQ® X mit KI-gestütztem Spektrummodus für smartere Messabläufe
Stufenloser Messabstand mit Messung von oben
Bis zu 140 mm Probenhöhe möglich
Programmierbarer Messtisch für automatisierte Messungen
Anwendungsbeispiele
- Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen von ≤ 0,1 μm
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z.B. auf Lead-Frames, Steckkontakten oder Leiterplatten
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle
- Bestimmung des Bleigehalts in Loten
- Bestimmung des Phosphor-Gehaltes in NiP-Schichten
- Bestimmung von PCB-Veredelungen
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