Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

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Produkt kann je nach Modell oder Ausstattung variieren

Das System für ein breites Einsatzspektrum.

Universelles Gerät zur Metall- und Edelmetallanalyse sowie Schichtdickenmessung an einfach geformten Proben und RoHS-Screening.

Verschiedene Messtischoptionen:
Fest oder manuell
RoHS-Analyse:
Zuverlässige Bestimmung von Schadstoffen
Videomikroskop zur bequemen
Bestimmung der optimalen Messstelle

Das passende XRF-Gerät für jede Anwendung.

Ob PIN-Detektor, Silizium-Drift-Detektor, feste Probenauflage oder manuell bedienbarer XY-Tisch: Das FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® bietet vielseitige Einsatzmöglichkeiten und ist auf Ihre Bedürfnisnisse angepasst. So gelingt die präzise Materialanalyse von Edelmetall- und Goldlegierungen, Schichtdickenmessung oder Spurenanalyse. Die Geräteversion mit dem 50 mm² Silizium-Drift-Detektor eignet sich darüber hinaus für RoHS-Messungen.

Vielfältig einsetzbar.

Für Handel, Industrie und Laboranwendungen

Quick-Measure-Design.

Mit wenigen Handgriffen ist das Muster platziert und bereit für die Messung

Inbetriebnahme.

Extrem schnell und einfach

RoHS-Analyse.

Zuverlässige Bestimmung von Schadstoffen

Digitaler Pulsprozessor 
DPP+*.

Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung**

*Nicht bei FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215
**Im Vergleich zum DPP

  • Merkmale

      Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode

      Silizium-PIN- und Silizium-Drift-Detektor sorgen für sehr gute Nachweisgenauigkeit und hohe Auflösung

      Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+

      Höhere Haube: Von 90 mm bis zu 170 mm Probenhöhe möglich, je nach Gerät

      Blende: fest oder 4-fach wechselbar*
      Primärfilter: fest oder 6-fach wechselbar*
      *je nach Gerät

      Bauartzugelassenes Vollschutzgerät

      Kleinster Messfleck ca.: Ø 0,3 mm

      Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör

  • Anwendungsbeispiele

      • Zerstörungsfreie Analyse von Dental-Legierungen
      • Mehrfachschichten
      • Analyse funktionaler Schichten ab 10 nm in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
      • Spurenanalyse für Verbraucherschutz, z. B. Bleigehalt in Spielzeug
      • Metall-Legierungsbestimmungen mit höchsten Genauigkeitsanforderungen in der Schmuckindustrie und in Scheideanstalten

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

Application Notes
Produktvideos
Tutorials
Webinare
Broschüren
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von Röntgenfluoreszenzmessgeräten
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung Stabilitätstest
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versenden
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER Röntgeneinrichtungen
Einrichten einer Messmittelüberwachung
ZnNi-Fe Beschichtung: Messung von Beschichtung sowie Kontrolle der zugehörigen Bäder
Kalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®
Dokumentation und Protokollierung von Messwerten
Messsystemanalyse leicht gemacht
Artikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwalten
XRF-Kalibrierung verstehen und beherrschen

Fischer Insights.

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