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Ideal geeignet zur Schichtdickenmessung auf Leiterplatten und galvanischen Oberflächen

Nie war es einfacher als mit diesem Handgerät, galvanische Beschichtungen selbst auf kleinen verzinkten Teilen wie Muttern, Bolzen und Schrauben zu messen. Das PHASCOPE® PMP10 ist vielseitig einsetzbar, einfach zu bedienen und kann auch die Dicke von Nichteisenmetallschichten bestimmen – so auch auf isolierenden Substraten wie PCB-Platten oder Nickel auf Stahl, Zink oder Kupfer auf Stahl und Kupfer auf Messing oder Bronze.

Das PHASCOPE PMP10 verfügt über mehrere Funktionen, die sowohl Zeit sparen als auch Qualitätssicherungsprozesse von Galvanikbetrieben optimieren. In Verbindung mit der Sonde ESD2.4 ermöglicht es Ihnen die schnelle Dickenmessung von Beschichtungen auf kleinen Teilen. Denn eine Neukalibrierung für die spezifische Geometrie des Messflecks ist normalerweise nicht erforderlich. Auch raue Oberflächen können Sie mit diesem Handgerät prüfen, ohne die Genauigkeit der Messungen zu beeinträchtigen.

Das PHASCOPE PMP10 verwendet die phasensensitive Wirbelstrom-Methode. Diese ist prädestiniert für kleine Objekte wie Schrauben und Muttern, da die Form des Prüfteils nur einen sehr geringen Einfluss auf die Messung selbst hat. Außerdem ermöglicht die phasensensitive Wirbelstrommethode berührungsloses Messen wie die Bestimmung der Dicke einer Kupferplattierung auf einer Leiterplatte – direkt durch eine Schutzlackschicht hindurch.

Merkmale

  • Schichtdickenmessung von Nickel, Zink oder Kupfer auf Stahl sowie auf rauen Oberflächen mit phasensensitivem Wirbelstrom-Verfahren
  • Einfache Verarbeitung und Berichterstellung von Messdaten mit der Fischer DataCenter-Software
  • Auch im Feld gut und sicher einsetzbar

Anwendungen

  • Schichtdickenmessung von Zink auf Stahl oder Kupfer auf verzinktem Stahl 
  • Schichten von Nickel auf Stahl sowie Kupfer auf Eisen oder auf Bronze
  • Nichteisenmetalle auf nichtleitenden Substraten, z. B. Kupfer auf Leiterplatten
  • Thermisch gespritztes Aluminium (TSA) auf Stahl
  • Zuverlässige Messergebnisse bei gekrümmten Geometrien, konvexen und konkaven Messpunkten sowie rauen Oberflächen
  • Mit speziellen Sonden geeignet für Durchkontaktierungsbohrungen in Leiterplatten
  • Schichten im Mikrometer-Bereich auf Nichteisenmetallen, Eisen oder Stahl
  • Mehrschichtsysteme aus Einzelschichten im Mikrometerbereich

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