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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Der High-End-Allrounder

Das XDV®-SDD ist eines der leistungsstärksten Röntgenfluoreszenz-Analyse-Geräte im Fischer Portfolio. Dieses XRF-Spektrometer ist mit einem besonders empfindlichen Silizium-Drift-Detektor (SDD) ausgestattet. Damit können Sie dünnste Schichten zerstörungsfrei vermessen – z. B. etwa 2 nm dicke Goldbeschichtungen auf Lead-Frames. 

Gleichzeitig ist das XDV-SDD hervorragend geeignet für die zerstörungsfreie Materialanalyse mittels XRF. So beträgt die Nachweisempfindlichkeit für Spuren von Blei in Kunststoff etwa 2 ppm – mehrere Größenordnungen unter den geforderten RoHS- oder CPSIA-Werten.

Um für jede Messung ideale Bedingungen zu schaffen, verfügt das XDV-SDD über wechselbare Blenden und Primärfilter. Das erlaubt Arbeiten auf wissenschaftlichem Niveau. Trotzdem ist das extrem robuste Gerät einfach zu bedienen und insbesondere für Serienprüfungen im industriellen Einsatz konzipiert. Features wie ein automatisch ausfahrender Messtisch und ein Live-Bild der Messstelle erleichtern Ihnen die tägliche Arbeit.

Merkmale

  • Universelles Premium-XRF-Spektrometer für automatisierte Messungen von sehr dünnen Schichten < 0,05 μm und für Materialanalyse im Sub-Promille-Bereich gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568
  • Extrem leistungsfähiger Silizium-Drift-Detektor von Fischer mit besonders großer effektiver Fläche (SDD 50 mm²)
  • 6-fach wechselbarer Primärfilter und 4-fach wechselbare Blenden zur Optimierung der Messbedingungen
  • Analyse von leichten Elementen wie Aluminium, Silizium und Phosphor
  • Proben bis zu 14 cm Höhe möglich
  • Hochpräziser, programmierbarer XY-Tisch mit < 5 µm Anfahrgenauigkeit für automatisierte Messungen an kleinen Strukturen 
  • Extrem robuste Bauweise für Serienprüfungen mit hervorragender Langzeitstabilität über Jahre hinweg
  • Bauartzugelassenes Vollschutzgerät

Anwendungen

  • Kontrolle sehr dünner Beschichtungen in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z. B. von Gold- und Palladiumschichten unter 50 nm 
  • Messung von Hartstoffschichten in der Automobil-Produktion
  • Schichtdickenmessung in der Photovoltaik-Industrie
  • Spurenanalyse von gefährlichen Substanzen wie Blei und Cadmium nach RoHS, WEEE, CPSIA und anderen Richtlinien für Elektronik, Verpackung und Gebrauchsgegenstände
  • Analyse und Echtheitsprüfung von Gold und anderen Edelmetallen sowie Edelmetall-Legierungen
  • Direkte Bestimmung des Phosphorgehalts in funktionellen NiP-Schichten

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