FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Merkmale
- Universelles Premium-XRF-Spektrometer für automatisierte Messungen von sehr dünnen Schichten < 0,05 μm und für Materialanalyse im Sub-Promille-Bereich gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568
- Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode
- 4-fach wechselbare Blenden für optimierte Messbedingungen
- 6-fach wechselbarer Primärfilter für bessere Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
- Extrem leistungsfähiger Silizium-Drift-Detektor (SDD) mit besonders großer wirksamer Fläche von 50 mm²
- Digitaler Pulsprozessor DPP+ für höhere Zählraten, kürzere Messzeiten oder bessere Wiederholbarkeit Ihrer Messergebnisse
- Analyse von Elementen von Al(13) bis U(92)
- Proben bis zu 14 cm Höhe möglich
- Hochpräziser, programmierbarer XY-Tisch mit < 5 µm Anfahrgenauigkeit für automatisierte Messungen an kleinen Strukturen
- DCM-Methode für die einfache und schnelle Anpassung der Messdistanz
- Bauartzugelassenes Vollschutzgerät gemäß aktueller Strahlenschutz-Gesetzgebung
Typische Anwendungen
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z. B. Bestimmung der Schichtdicke von Goldschichten bis herab zu 2 nm
- Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z. B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 0,1 μm
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Schichtdickenmessung in der Photovoltaik-Industrie
- Spurenanalyse von gefährlichen Substanzen wie Blei und Cadmium nach RoHS, WEEE, CPSIA und anderen Richtlinien für Elektronik, Verpackung und Gebrauchsgegenstände
- Analyse und Echtheitsprüfung von Gold und anderen Edelmetallen sowie Edelmetall-Legierungen
- Direkte Bestimmung des Phosphorgehalts in funktionellen NiP-Schichten
Der High-End-Allrounder
Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD ist eines der leistungsstärksten Röntgenfluoreszenz-Geräte im Fischer Portfolio. Dieses XRF-Spektrometer ist mit einem hochauflösenden und leistungsstarken Silizium-Drift-Detektor (SDD) mit einer wirksamen Fläche von 50 mm² ausgestattet. Damit können Sie dünnste Schichten präzise und zerstörungsfrei vermessen – z. B. etwa 2 nm dicke Goldbeschichtungen auf Lead Frames.
In Kombination mit dem inhouse entwickelten neuen digitalen Pulsprozessor DPP+ bringen Sie Ihre Messperformance auf ein neues Level. So können nun noch höhere Zählraten verarbeitet werden, die zu verkürzten Messzeiten oder einer verbesserten Wiederholbarkeit Ihrer Messergebnisse führt. Gleichzeitig ist das XDV-SDD hervorragend geeignet für die zerstörungsfreie Materialanalyse mittels XRF. So beträgt die Nachweisempfindlichkeit für Spuren von Blei in Kunststoff etwa 2 ppm – mehrere Größenordnungen unter den geforderten RoHS- oder CPSIA-Werten.
Um für jede Messung ideale Bedingungen zu schaffen, verfügt das XDV-SDD über wechselbare Blenden und Primärfilter. Das erlaubt Arbeiten auf wissenschaftlichem Niveau. Trotzdem ist das extrem robuste Gerät mit seinem intuitiven Bedienfeld einfach über einen Joystick und Tasten zu bedienen und insbesondere für Serienprüfungen im industriellen Einsatz konzipiert.
Vor dem Punzieren, bei hohen Probenvolumina oder großen Prüfteilen: Goldgehalt schnell und zuverlässig messen
Untersuchen Sie zuverlässig Legierungen oder Edelmetalle auf feinste Unterschiede mit dem neuen FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD. Erhalten Sie hochpräzise Analysen, auf deren Basis Sie sichere Aussagen über den Wert von Goldbarren, Münzen oder Schmuck treffen.
Fallstudien
