FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
Performance dank DPP+
Inhouse produziert & konstant weiterentwickelt²
passende Polykapillaroptik³
¹ Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
² Polykapillarlinsen, welche ständig weiterentwickelt werden. High-End Kapillaroptiken Made by Fischer – weltweit einziger Hersteller von Röntgenfluoreszenz-Messgeräten mit eigener Fertigung von Polykapillaroptiken.
³ Drei verschiedene High-End-Polykapillaroptiken verfügbar – für jede Ihrer Anwendungen die passende Lösung: 10 µm halofrei, 20 µm halofrei oder 20 µm standard.
Für höchste Ansprüche bis ins kleinste µ.
Die FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ Geräte gehören zu den High-End-Röntgenfluoreszenz-Messgeräten von Fischer und sind ideal für Messungen an winzigen Strukturen geeignet. Sie sind mit der neuesten Generation leistungsfähiger Silizium-Drift-Detektoren, Mikrofokus-Röhren Ultra und inhouse produzierten Polykapillaroptiken ausgestattet. Aufgrund der hohen Strahlungsintensität sind die Messzeiten drastisch reduziert und hochpräzise Messungen auf kleinsten Messflecken möglich.
Allen Herausforderungen gewachsen.
Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben
Fortschrittlichste Polykapillaroptik auf dem Markt.
Unsere inhouse gefertigten Polykapillaroptiken liefern herausragende Messergebnisse bei kurzen Messzeiten
Vollständig automatisierbar.
Lassen Sie Ihr Gerät mit nur einem Klick für sich arbeiten
Genau und exakt.
Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen dank automatischer Bilderkennung
Digitaler Pulsprozessor DPP+.
Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*
*Im Vergleich zum DPP
Video-System mit 3-fach optischem Zoom und Software WinFTM® – so gelingt die präzise Positionierung jeder Probe.
Mit der Mikrofokus-Röhre Ultra wird die Anregungsintensität deutlich erhöht. Dies sorgt für eine noch höhere Messperformance bei kleinsten Messflecken.
Dank der innovativen Polykapillar-Röntgenoptik misst das Gerät mit extrem kleinem Messfleck, bei zugleich sehr hoher Intensität.
Durch den hochauflösenden und leistungsstarken Silizium-Drift-Detektor können Sie kleinste Strukturen und dünnste Schichten < 0,1 µm präzise und zerstörungsfrei messen.
Merkmale
Mikrofokus-Röhre Ultra mit Wolframanode für noch höhere Leistung bei kleinsten Spots mit µ-XRF; Molybdänanode optional
Wechselbarer Filter
Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+
Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke bei kurzen Messzeiten mit hoher Intensität
Messfleck ca.: Ø 10 bzw. 20 µm
Silizium-Drift-Detektor mit 20 oder 50 mm² aktiver Fläche für höchste Präzision
Bis zu 135 mm Probenhöhe möglich
Anwendungsbeispiele
- Messung auf kleinsten, flachen Bauteilen und Strukturen wie Leiterbahnen, Kontakten oder Lead Frames
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Automatisierte Messungen, z. B. in der Qualitätskontrolle
- Messung von leichten Elementen, z. B. Bestimmung des Phosphorgehalts in chemisch Nickel unter Gold und Palladium (ENIG/ENEPIG)
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Application Notes
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Tutorials
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Fachartikel
Application Notes
AN003 Hohe Wiederholpräzision und Richtigkeit der Messung von Au/Pd-Schichten auf Leadframes 0.69 MB AN008 Dicke und Zusammensetzung von NiP-Schichten auf Steckkontakten oder kleinen Strukturen auf Leiterplatten 0.57 MB AN032 Materialanalyse von Solder Bumps in der IC Packaging Industrie 0.57 MB AN092 Worauf bei der Wahl eines Röntgenfluoreszenzanalyse Geräts zu achten ist 1.25 MB AN093 Röntgenfluoreszenzanalyse zur zerstörungsfreien Schichtdickenmessung im Bereich der Kaltmassivumformung 0.76 MB AN098 Optimiert für die Elektronikindustrie: Messung von ENIG und ENEPIG auf einem neuen Level 1.47 MBProduktvideos
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