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Merkmale

  • Universelles XRF-Spektrometer für präzise Schichtdickenmessung und Materialanalyse – auch bei schwierigen Stoffkombinationen; konform zu DIN ISO 3497 und ASTM B 568
  • Gewicht 1,9 kg
  • Eine Akkuladung reicht für bis zu 6 Betriebsstunden
  • Messfleck: 3 mm Ø
  • Hochauflösender Silizium-Drift-Detektor
  • IP54 für den Einsatz draußen
  • Optionale Messbox für den Einsatz als XRF-Tischgerät 
  • Datenauswertung mit der vollwertigen WinFTM Software

Anwendungen

  • Analyse von sperrigen Objekten und von kleinen Teilen mithilfe der Messbox
  • Gleichzeitige Bestimmung von Schichtdicke und Zusammensetzung der Schicht mit nur einer Messung (z. B. ZnNi auf Fe)
  • Standardfreie Messung von unbekannten Legierungen 
  • Messungen an großen beschichteten Teilen, z. B. Maschinenbauteile und Gehäuse
  • Prüfung von galvanischen Schichten
  • Analyse des Metallgehaltes von Galvanikbädern

Der Spezialist für den Feldeinsatz, der mehr kann

Das FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 ist so vielseitig wie kein anderes XRF-Spektrometer. Als Handgerät eignet es sich perfekt dazu, die Beschichtung von sperrigen Teilen wie Rohren, Flugzeugkomponenten oder Turbinenschaufeln zu kontrollieren. 

Im Gegensatz zu anderen auf dem Markt erhältlichen mobilen XRF-Geräten kann das FISCHERSCOPE XAN 500 die Beschichtungsdicke sehr präzise bestimmen. Mit der 3-Punkt-Auflage ist es einfach, das Gerät immer richtig aufzusetzen und während der Messung stabil zu halten. Der hochqualitative Silizium-Drift-Detektor (SDD) sorgt dabei für die nötige Präzision, um auch Legierungsschichten wie Zink-Nickel zu analysieren. 

Das XAN 500 ist jedoch nicht nur ein XRF-Spektrometer für große Teile. Dank der optional erhältlichen Messbox verwandelt sich das Modell mit wenigen Handgriffen in ein Tischgerät. Damit können Sie auch Kleinteile wie Schrauben und Muttern schnell und bequem kontrollieren.

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