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FISCHERSCOPE X-RAY XAN

FISCHERSCOPE X-RAY XAN

Für jede Anwendung das passende Gerät

Wie die XUL-Familie sind die XRF-Spektrometer FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® am besten dazu geeignet, einfach geformte Proben zu analysieren. Ein großer Vorteil der XAN-Reihe sind aber die hochwertigen Halbleiterdetektoren. Damit können Sie nicht nur Schichten messen, sondern auch die Zusammensetzung von Legierungen mit Röntgenfluoreszenz (XRF) analysieren. 

Insgesamt umfasst die XAN-Reihe 5 Tischspektrometer, die ein breites Anwendungsspektrum abdecken. XAN 215 steht für ein XRF-Gerät mit kostengünstigem PIN-Detektor. Es ist ideal, um einfache Schichtdickenaufgaben zu lösen wie Zink auf Eisen oder Au/Ni/Cu. Für komplexere Anwendungen mit Legierungen sind Geräte mit einem Silizium-Drift-Detektor (z. B. XAN 220) besser geeignet. Dank weitaus höherer Auflösung unterscheiden sie zuverlässig zwischen Gold und Platin. Daneben kommt das XAN 250 bei der Ermittlung von Schwermetallspuren und anderen Gefahrstoffen zur Anwendung.

Noch leistungsfähiger dank DPP+ und größerem SDD

Mit dem XAN 220, XAN 222, XAN 250 und XAN 252 messen Sie nun sogar noch präziser und schneller. Wie das GOLDSCOPE SD 520 und SD 550 sind die Messgeräte mit dem neuen inhouse entwickelten digitalen Pulsprozessor DPP+ ausgestattet. Durch Einsatz des neuen Prozessors mit dem neu erhältlichen, größeren Silizium-Drift-Detektor (50 mm² wirksame Fläche) ist die Verarbeitung von noch mehr Signalen vom Messmuster möglich. Daraus resultiert eine sehr gute Energieauflösung. Für Sie bedeutet dies: Messen Sie dreimal schneller oder reduzieren Sie die absolute Standardabweichung der Widerholpräzision um 45 %.

Merkmale

  • Universelle XRF-Spektrometer für Metall- und Edelmetallanalyse, Schichtdickenmessung und Spurenanalyse gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568
  • Hochwertige Halbleiterdetektoren (PIN und SDD) sorgen für eine gute Nachweisgenauigkeit und eine hohe Auflösung
  • XAN 250 und 252: Messung von leichten Elementen wie Aluminium, Silizium oder Schwefel 
  • Blende: fest oder 4-fach wechselbar, kleinster Messfleck ca. 0,3 mm
  • Primarfilter: fest oder 6-fach wechselbar
  • Feste Probenauflage oder ein manueller XY-Tisch
  • Videokamera zur bequemen Suche der passenden Messstelle
  • Bis zu 17 cm Probenhöhe

Anwendungen

  • Zerstörungsfreie Analyse von Dental-Legierungen
  • Mehrfachschichten
  • Analyse funktionaler Schichten ab 10 nm in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
  • Spurenanalyse für Verbraucherschutz, z. B. Bleigehalt in Spielzeug
  • Metall-Legierungsbestimmungen mit höchsten Genauigkeitsanforderungen in der Schmuckindustrie und in Scheideanstalten

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