FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
ca. Ø 0,2 µm
3-fach wechselbarer Filter
für sehr gute Nachweisgenauigkeit und hohe Auflösung
XRF-Leiterplattenprüfung für Profis.
Durch die Kombination aus leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor, Multikollimator und wechselbaren Filtern sind FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB Geräte für die Messung kleiner Strukturen auf Leiterplatten prädestiniert.
PCB-Profis.
Spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten, erfüllen IPC-Normen
Allen Herausforderungen gewachsen.
Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben
Vollständig automatisierbar.
Lassen Sie Ihr Gerät für sich arbeiten
Genau und exakt.
Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen
Inbetriebnahme.
Extrem schnell und einfach
Echtzeit-Übertragung, Auswertung und Export der Messdaten mit WinFTM®, der leistungsstärksten Anwendungssoftware auf dem Markt.
Mit der intuitiv bedienbaren PCB-Geräteserie bietet Helmut Fischer spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten.
Universelles Gerät für Messungen auf kleinen Strukturen, Mehrfachschichten, funktionalen Schichten und dünnen Beschichtungen < 0,1 μm.
Eine hervorragende Langzeitstabilität ist kennzeichnend für alle FISCHERSCOPE® X-RAY Geräte. Das reduziert den Kalibrieraufwand wesentlich und spart Zeit und Kosten.
Merkmale
Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode
Fester, breiter Messtisch für Leiterplatten bis 610 × 610 mm, optional mit Messtischerweiterung 1200 x 900 mm oder in automatisierter Version, je nach Gerät
Messfleck ca.: Ø 0,2 mm
4-fach wechselbare Blende und 3-fach wechselbarer Filter
Bis zu 10 mm Probenhöhe möglich
Großer Silizium-Drift-Detektor für höchste Präzision bei dünnen Schichten
Anwendungsbeispiele
- Messungen auf kleinsten Bauteilen und Strukturen auf Leiterplatten bis 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Analyse sehr dünner Beschichtungen von ≤ 0,1 μm
- Bestimmung des Bleigehalts in Loten
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Direkte Phosphor-Bestimmung von NiP-Schichten
- Erfüllt ENIG-/ENEPIG-Anforderungen
Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns!
Application Notes
Tutorials
Webinare
Broschüren
Application Notes
AN050 X-RAY Produktlinie für Messungen an Leiterplatten (PCBs) 0.72 MB AN072 Automatische Mustererkennung vereinfacht die Qualitätskontrolle von Leiterplatten 0.67 MB AN092 Worauf bei der Wahl eines Röntgenfluoreszenzanalyse Geräts zu achten ist 1.25 MB AN096 Optimiert für die PCB-Industrie: Messung ultradünner Gold und Palladiumschichten nach IPC-4552B und IPC-4556A 0.73 MBTutorials
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von RöntgenfluoreszenzmessgerätenFISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung StabilitätstestFISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versendenFISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versendenWebinare
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER RöntgeneinrichtungenEinrichten einer MessmittelüberwachungKalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®Dokumentation und Protokollierung von MesswertenMesssystemanalyse leicht gemachtArtikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwaltenXRF-Kalibrierung verstehen und beherrschenBroschüren
Fischer Insights.
Entdecken Sie weitere Produkte.
