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FISCHERSCOPE X-RAY PCB Serie

FISCHERSCOPE X-RAY PCB Serie

Die Profi-Serie für Leiterplattenprüfung

Moderne Leiterplatten verfügen über eine Vielzahl von beschichteten Kontaktstellen. Um zuverlässige Lötverbindungen, Korrosionsbeständigkeit und Lagerfähigkeit zu garantieren, müssen die Schichtdicken der verschiedenen Materialien ideal auf einander abgestimmt sein. Um diese engen Spezifikationen zu kontrollieren, ist die energiedispersive Röntgenfluoreszenz die Methode der Wahl.

Die speziell entwickelten Röntgenfluoreszenz-Spektroskopen von Fischer erfüllen perfekt die Anforderungen von Leiterplatten-Herstellern: schnell und einfach zu bedienen bieten alle Geräte genügend Platz für Leiterplatten bis 610 x 610 mm Größe. 

Je nach Anforderung stehen Ihnen verschiedene Modelle zur Verfügung. Rufen Sie uns an, wir beraten Sie gerne!

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

Für einfache Messungen und Stichprobenkontrollen ist das FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB gut geeignet. Es ist mit einem Proportionalzählrohr-Detektor ausgestattet, das kurze Messzeiten erlaubt. Dieser Röntgenfluoreszenz-Spektrometer wird für Dickenmessung bei Schichten über 0,1 µm empfohlen.

  • Wolfram-Mikrofokusröhre für Standardanwendungen
  • Proportionalzählrohr-Detektor für Analysen von Elementen von Kalium (19) bis Uran (92)
  • Fester, breiter Probentisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm (24 x 24 in)
  • Maximale Probenhöhe 90 mm
  • Kleinster Messfleck Ø ca. 0,2 mm
  • Bauartzugelassenes Vollschutzgerät 

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB ist ebenfalls mit einem Proportionalzählrohr ausgestattet. Dieser Röntgenfluoreszenz-Spektrometer verfügt aber über unterschiedliche Blenden und Filter, um die optimalen Messbedingungen für Ihre Aufgabe zu schaffen. In der Grundausstattung hat es einen herausziehbaren Probentisch, der die Positionierung der Leiterplatte vereinfacht. Auf Wunsch steht für automatisierte Messungen aber auch ein programmierbarer XY-Tisch zur Verfügung.

  • Wolfram-Mikrofokusröhre für Standardanwendungen
  • Optional 3-fach wechselbarer Filter, für bessere Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
  • Proportionalzählrohr-Detektor für Analysen von Elementen von Kalium (19) bis Uran (92)
  • Manuell herausziehbarer oder ein programmierbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm (24 x 24 in)
  • Maximale Probenhöhe 5 mm
  • 4-fach wechselbare Blenden, kleinster Messfleck Ø ca. 0,2 mm
  • Einzelzulassung als Vollschutzgerät

 

 

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

Bei High-Reliability Anwendungen sind Leiterplatten qualitätskritische Bauteile. In solchen Fällen werden die High-End-Beschichtungen nach dem ENIG- und dem ENEPIG-Verfahren verwendet. Da bei diesen Verfahren die dünnsten Schichtdicken zwischen 40 und 100 nm liegen, reicht die Genauigkeit der Proportionalzählrohre nicht mehr aus, um den Prozess zu kontrollieren. Hier ist das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB die richtige Wahl. Die Kombination aus einem hochempfindlichen Silizium-Drift-Detektor (SDD) und Polykapillaroptik erlaubt präzise Messungen auf Strukturen unter 50 µm Größe.

Gerade bei sehr kleinen Strukturen kostet es sehr viel Zeit die Messpositionen einzeln auszuwählen, wenn große Stichproben geprüft werden müssen. Mit der implementierten Bilderkennungssoftware von Fischer können Sie sich diesen Aufwand sparen. Sie speichern ein Bildausschnitt ein, das XDV®-µ PCB sucht nach entsprechenden Strukturen und misst sie vollautomatisch.

  • Mikrofokus-Röhre mit Wolfram oder Molybdän
  • 4-fach wechselbarer Filter, für optimale Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
  • Silizium-Drift-Detektor für Analysen von Elementen von Aluminium (13) bis Uran (92)
  • Programmierbarer Messtisch, optional mit Vakuum-Halterung für FLEX-PCBs
  • Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke (10 oder 20 μm FWHM) 
  • Maximale Probengröße 610 x 610 mm und 10 mm Höhe
  • Einzelzulassung als Vollschutzgerät

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