Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

Inline-Messung mit höchster Präzision für dünne Schichten.

Robustes XRF-Gerät für Messungen und Analysen dünner Schichten und Schichtsysteme im laufenden Prozess mit Anbindung an das Produktionsleitsystem.

 

Bis zu 50% ¹ verbesserte
Performance dank DPP+
Robust und wartungsarm
durch unbewegliche Teile
Messungen im Vakuum ²
oder an der Luft
¹ ² Mehr anzeigen
Weniger anzeigen

¹ Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
² Nur FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.

Kontinuierliche Qualitätskontrolle mit Köpfchen.

Konzipiert für eine maximale Betriebszeit überzeugt die FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 Serie unter anderem mit einem hohen Individualisierungsgrad und herausragender Messperformance – berührungslos, zerstörungsfrei und präzise. Die Geräte dieser Serie bilden modulare Einheiten, weshalb sie sich als reine Komponente leicht in eine bestehende Anlage einbauen lassen.

Maßgeschneidert.

Einfache Integration, individuell anpassbar an Ihre Applikation

Kommt nicht ins Schwitzen.

Probentemperaturen bis 250 °C dank Wasserkühlung

Digitaler Pulsprozessor DPP+.

Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*

*Im Vergleich zum DPP

Robust und zuverlässig.

Keine bewegten Teile

Kompakte Bauweise.

Messkopf mit allen erforderlichen Komponenten in einer Einheit

Messungen im Vakuum.

Auf Vakuumkammern montierbar

  • Merkmale

      Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode; Molybdänanode optional

      Fixe Blende (bis zu Ø 11 mm konfigurierbar)

      Für Messungen im Vakuum oder an Luft

      Optional mit Wasserkühlung für Probentemperaturen bis zu 250 °C

      Silizium-Drift-Detektor 50 mm² für höchste Präzision

      Fixer Filter (konfigurierbar)

      Peltierkühlung

      Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+

      Beliebige Einbaulage möglich

      Fernsteuerung und Datenexport über TCP/IP-Schnittstelle

  • Anwendungsbeispiele

      • Messung dünner Beschichtungen und geringer Beladungen auf großflächigen Produkten und Substraten, etwa von Brennstoffzellen, auf Glaspaneelen und sehr heißen Oberflächen
      • Überwachung der Zusammensetzung und Dicke von Schichten in der Photovoltaik wie CIGS, CIS, CdTe und CdS
      • Messung dünner Schichten von wenigen µm auf Metallbändern, Metallfolien und Kunststofffolien
      • Prozessüberwachung von Sputter- und Galvanikanlagen
      • Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

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