COULOSCOPE® CMS2 und CMS2 STEP
für unterschiedliche Schichtsysteme
Schichtaufbaus
Höchstmaß an Genauigkeit
Coulometrische Schichtdickenmessung für die Qualitätskontrolle.
Ab einer bestimmten Schichtdicke stößt die zerstörungsfreie Schichtdickenmessung mittels Röntgenfluoreszenz an ihre Grenzen. Hier kommt das COULOSCOPE® CMS2 ins Spiel. Messen Sie mittels coulometrischem Verfahren die Schichtdicke nahezu aller Metallschichten präzise und zuverlässig – per elektrolytischer Schichtablösung. Das einfach zu bedienende Tischgerät bietet größte Flexibilität, da es für ein breites Spektrum an Schicht-Träger-Kombinationen verwendet werden kann.
Optimales Messkonzept.
Vordefinierte Messaufgaben für unterschiedliche Schichtsysteme
Einfache Kalibrierung.
Erzielen Sie ein Höchstmaß an Genauigkeit
Individuell erweiterbar.
Umfangreiches Zubehör ermöglicht praxisgerechtes Arbeiten und sichere Aufbewahrung
Intuitive Bedienung.
Farbdisplay und grafisch unterstützte Benutzerführung
Maximale Flexibilität.
Exakte Schichtdickenmessung von nahezu jeder Schicht-Träger-Kombination
COULOSCOPE® CMS2: Wenn ab einer bestimmten Schichtdicke die zerstörungsfreie Schichtdickenmessung mittels XRF an ihre Grenzen stößt.
Ein funktionsfähiger Messplatz besteht aus einem COULOSCOPE® CMS2 bzw. CMS2 STEP und einem Stativ mit Messzelle (bzw. STEP-Messzelle).
Viele in der Praxis vorkommenden Einfach- und Mehrfachschichten können mit dem COULOSCOPE® CMS2 genau gemessen werden.
Messen Sie neben der coulometrischen Schichtdickenmessung auch elektrochemische Potenziale mit dem COULOSCOPE® CMS2 STEP.
Merkmale
Grafische Darstellung des Spannungsverlaufes an der Messzelle
Fast 100 vordefinierte Messaufgaben zu unterschiedlichen Schichtsystemen (z. B. Zink auf Eisen oder Nickel auf Messing)
Schichtablösung gemäß DIN EN ISO 2177
Einfacher Datentransfer über USB-Schnittstelle
Messbereich: Abhängig von der Schicht-Grundwerkstoff-Kombination und der Ablösegeschwindigkeit 0,02 - 50 µm
Messwertspeicher: 3.000 in 50 Applikationen
Funktionen für die STEP-Test-Messung gemäß ASTM B764 - 04 und DIN EN 16866
Einfache Auswahl der Ablösegeschwindigkeit (0,1 - 50 µm/min) und der Ablösefläche (0,6 - 3,2 mm Ø)
Messverfahren: Coulometrie durch anodische Ablösung
Anwendungsbeispiele
- Messung der Schichtdicke von nahezu allen metallischen Einfach- und Mehrfachschichten auf nahezu jedem Grundwerkstoff
- Qualitätskontrolle von galvanisch aufgebrachten Beschichtungen
- Überwachung der Restzinn-Schichtdicke auf Leiterplatten
- STEP-Test-Messung: Messung von Einzelschichtdicken und Potenzialdifferenzen bei Mehrfach-Nickelschichten auf Kupfer, Eisen, Aluminium oder Kunststoffsubstraten (ABS)
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Application Notes
Broschüren
Application Notes
AN016 Messung von Cr/Ni/Cu-Schichten auf Kunststoff 0.21 MB AN039 Kontrolle der Lötqualität durch Messung der Restzinn-Schichtdicke auf Leiterplatten 0.62 MB AN089 Messen von Chrom(III)-Schichten 0.13 MB AN091 Unterschiedliche Wege zur Erzielung gültiger Messwerte und Optimierung der Messperformance 0.20 MBBroschüren
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