Die ideale Methode zur Qualitätskontrolle in der Galvanik
Die Galvanisierung ist ein gebräuchliches Verfahren zur Metallveredelung oder -aufbesserung, das in zahlreichen industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Der Hauptzweck des Galvanisierens besteht darin, dem Grundmaterial dekorative und funktionelle Eigenschaften zu verleihen. Aufgrund dieser Vorteile, die durch bestimmte Verbindungen, darunter Zink, Chrom und Nickel und deren Legierungen, entstehen, erfüllen die Substrate sowohl den Anspruch des Herstellers als auch des Endbenutzers.
Die Dickenvariation ist eine bedeutende Herausforderung in der Beschichtungsindustrie. Die Geometrie der Komponenten reicht von einfachen flachen bis hin zu komplexen unebenen Oberflächen. Merkmale wie Vertiefungen, Hohlräume und Löcher weisen im Vergleich zu Außenecken, Kanten und flachen Bereichen geringere Schichtablagerungen auf. Obwohl in den Spezifikationen für die Endbearbeitung im Allgemeinen eine Mindestschichtdicke angegeben ist, würde eine Überbeschichtung zusätzliche Kosten verursachen, während eine Unterbeschichtung zu einem qualitativ weniger guten Produkt führt. Vor dem Hintergrund der Produktqualität sowie der Prozess- und Kostenkontrolle ist es daher wichtig, die Schichtdicke schnell und genau zu messen.
Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist eine schnelle und genaue Methode zur Schichtdickenmessung
Die Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF-Analyse) ist eine schnelle, genaue und zerstörungsfreie Methode zur Messung der Schichtdicke und Zusammensetzung von Plattierungsablagerungen einer Vielzahl von Materialien. Ein großer Vorteil der XRF-Analyse besteht darin, dass Dicke und Zusammensetzung sowohl einzelner als auch mehrerer Schichten gleichzeitig gemessen werden können. Außerdem ist das Gerät einfach zu bedienen und eine Messung dauert in der Regel nur wenige Sekunden.
Die XRF-Analyse ist genauer gesagt eine Atomspektroskopie. Sie beruht auf dem Phänomen, dass Atome in einer Materialprobe, wenn sie durch die primäre Röntgenstrahlung angeregt werden, Fluoreszenzstrahlung erzeugen (siehe Abbildung). Die Wellenlänge oder Energie dieser fluoreszierenden Emissionen ist charakteristisch für die elementare Zusammensetzung des Probenmaterials. Die Anzahl der abgegebenen Photonen bei diesen spezifischen Energien stellt die Anzahl der Atome (Masse) des abgebenden Elements, das im Material vorhanden ist, dar. Zusätzlich kann die Schichtdicke entweder durch die Stärke des Signals ausgehend von den Beschichtungsmaterialien oder durch die Abschwächung der Materialstrahlung des Untergrundes bestimmt werden.
