Schnelle und zerstörungsfreie Analyse
Wenn die Probe nicht zum Messgerät kommen kann, muss das Messgerät zur Probe kommen! Mit dem FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 bietet Fischer ein mobiles Röntgenfluoreszenz (XRF)-Gerät an, das für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse von Legierungen optimiert ist.
Trotz seiner geringen Größe ist das XAN 500 jedem XRF-Gerät, das man in einem Labor finden kann, ebenbürtig. Sein moderner Silizium-Drift-Detektor (SDD) garantiert korrekte Messergebnisse in nur wenigen Sekunden. Und selbst komplexe Messaufgaben mit mehreren Schichten und verschiedenen Legierungen werden zuverlässig gelöst.
Gerade bei der Messung von Schichtdicken ist es von großer Bedeutung, dass der Abstand zwischen Gerät und Probe konstant und der Strahlengang gerade ist. Mit der 3-Punkt-Auflage des XAN 500 können Sie das Gerät sicher und stabil für die genaue Messung von Beschichtungen aufsetzen. Das Ergebnis wird direkt auf dem Display des Geräts angezeigt. Für die weitere Datenauswertung ist das XAN 500 mit der Software WinFTM® ausgestattet.
Sowohl die Schichtdickenmessung als auch die Materialanalyse mit WinFTM basieren auf der Fundamental-Parameteranalyse. Dadurch ist es möglich, ohne vorherige Kalibrierung – also standardfrei – genau zu messen. Und für die Fälle, in denen höchste Präzision gefordert ist, bieten wir auch DAkkS-zertifizierte Standards an, die eine schnelle und einfache Kalibrierung des Geräts für Ihre spezifische Messaufgabe ermöglichen.
Sehen Sie sich das Video an, um mehr zu erfahren – oder kontaktieren Sie uns direkt!
