Das XDV®-µ ist ein XRF-Messgerät mit einer Polykapillar-Röntgenoptik für Messungen an sehr kleinen Komponenten und Strukturen. Die inhouse gefertigte Polykapillaroptik fokussiert den Röntgenstrahl und ermöglicht so Messpunkte (fwhm) mit Durchmessern zwischen 10 und 60 μm. Durch die hohe Intensität der fokussierten Strahlung ist zudem die Messdauer kurz. Neben dem universell einsetzbaren XDV-μ gibt es spezielle Geräte für die Elektronik- und Halbleiterindustrie. So ist beispielsweise das XDV-μ LD für Messungen auf Leiterplatten optimiert, während das XDV-μ WAFER für den Einsatz in Reinräumen vorgesehen ist.
Lernen Sie in dieser Tutorial-Reihe das Highend-XRF-Messgerät von Fischer näher kennen!
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