Die Profi-XRF-Serie für Leiterplattenprüfung
Moderne Leiterplatten verfügen über eine Vielzahl von beschichteten Kontaktstellen. Um zuverlässige Lötverbindungen, Korrosionsbeständigkeit und Lagerfähigkeit zu garantieren, müssen die Schichtdicken der verschiedenen Materialien ideal aufeinander abgestimmt sein. Um diese engen Spezifikationen zu kontrollieren, ist die energiedispersive Röntgenfluoreszenz die Methode der Wahl.
Mit der PCB-Geräteserie bietet Helmut Fischer spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten. Die PCB-Profis liefern zuverlässige und schnelle Ergebnisse für einfache als auch für ambitionierte Messaufgaben und Schichtdickenmessung bis in den Nanometerbereich.
Je nach Anforderung stehen Ihnen verschiedene Modelle zur Verfügung. Rufen Sie uns an, wir beraten Sie gerne!
FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
Für einfache Messungen und Stichprobenkontrollen ist das FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB sehr gut geeignet. Als robustes Einsteigergerät ist das XRF-Spektrometer mit einem Proportionalzählrohr-Detektor ausgestattet, das kurze Messzeiten erlaubt.
- Wolfram-Mikrofokusröhre für Standardanwendungen
- Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm
- Proportionalzählrohr-Detektor für Analysen von Elementen von Kalium (19) bis Uran (92)
- Patentiert von Fischer: die DCM-Methode für die einfache und schnelle Anpassung der Messdistanz
- Fester, breiter Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm
- Maximale Probenhöhe 90 mm
- Bauartzugelassenes Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht, genehmigungspflichtig gemäß § 12 Strahlenschutzgesetz
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB
Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB ist ebenfalls mit einem Proportionalzählrohr ausgestattet. Dieses XRF-Spektrometer verfügt aber über unterschiedliche Blenden und Filter, um die optimalen Messbedingungen für Ihre Aufgabe zu schaffen. In der Grundausstattung hat es einen herausziehbaren Probentisch, der die Positionierung der Leiterplatte vereinfacht. Auf Wunsch steht für automatisierte Messungen aber auch ein programmierbarer XY-Tisch zur Verfügung.
- Wolfram-Mikrofokusröhre für Standardanwendungen
- Optional 4-fach wechselbare Blenden für optimierte Messbedingungen
- Optional 3-fach wechselbarer Filter für bessere Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
- Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm
- Proportionalzählrohr-Detektor für Analysen von Elementen von Kalium (19) bis Uran (92)
- Patentiert von Fischer: die DCM-Methode für die einfache und schnelle Anpassung der Messdistanz
- Manuell herausziehbarer oder programmierbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm
- Maximale Probenhöhe 5 mm
- Einzelzulassung als Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht, genehmigungspflichtig gemäß § 12 Strahlenschutzgesetz
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB ist im Gegensatz zum XULM-PCB und XDLM-PCB mit einem hochempfindlichen Silizium-Drift-Detektor (SDD), verschiedenen Blenden und Filtern ausgestattet. Das schafft optimale Messbedingungen auch für die Prüfung nach dem ENIG- und ENEPIG-Verfahren. In der Grundausstattung hat das Gerät einen herausziehbaren Probentisch, der die Positionierung der Leiterplatte vereinfacht. Auf Wunsch kann dieser für große Leiterplatten mit einer Probentischerweiterung ausgestattet werden.
-
Wolfram- oder Chrom-Mikrofokusröhre
- 4-fach wechselbare Blenden für optimierte Messbedingungen
-
3-fach wechselbarer Filter für bessere Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
-
Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm
-
Silizium-Drift-Detektor (SDD) für Analysen von Elementen von Aluminium (13) bis Uran (92)
-
Patentiert von Fischer: die DCM-Methode für die einfache und schnelle Anpassung der Messdistanz
-
Manuell herausziehbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm
-
Maximale Probenhöhe 10 mm
-
Einzelzulassung als Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht, genehmigungspflichtig gemäß § 12 Strahlenschutzgesetz
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Bei High-Reliability Anwendungen sind Leiterplatten qualitätskritische Bauteile. In solchen Fällen werden die High-End-Beschichtungen nach dem ENIG- und dem ENEPIG-Verfahren verwendet. Da bei diesen Verfahren die dünnsten Schichtdicken zwischen 40 und 100 nm liegen, reicht die Genauigkeit der Proportionalzählrohre nicht mehr aus, um den Prozess zu kontrollieren. Hier ist das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB die richtige Wahl. Die Kombination aus einem hochempfindlichen Silizium-Drift-Detektor (SDD) und Polykapillaroptik erlaubt präzise Messungen auf Strukturen unter 50 µm Größe.
Gerade bei sehr kleinen Strukturen kostet es sehr viel Zeit die Messpositionen einzeln auszuwählen, wenn große Stichproben geprüft werden müssen. Mit der implementierten Bilderkennungssoftware von Fischer können Sie sich diesen Aufwand sparen. Sie speichern ein Bildausschnitt ein, das XDV-µ PCB sucht nach entsprechenden Strukturen und misst sie vollautomatisch.
- Mikrofokus-Röhre mit Wolfram oder Molybdän
- 4-fach wechselbare Blenden für optimierte Messbedingungen
- 4-fach wechselbarer Filter für optimale Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
- Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke Ø ca. 20 oder 10 µm
- Silizium-Drift-Detektor (SDD) für Analysen von Elementen von Aluminium (13) bis Uran (92)
- Programmierbarer Messtisch für Leiterplatten bis 613 x 610 mm, optional mit Vakuum-Halterung für FLEX-PCBs
- Maximale Probenhöhe < 4-5 mm
- Einzelzulassung als Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht, genehmigungspflichtig gemäß § 12 Strahlenschutzgesetz
