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Röntgenfluoreszenz:
Leistungsfähigstes Verfahren für Mehrfach-
und Legierungsschicht - Systeme

Schichtdickenmessung mit Röntgenspektrometern
Die XDLM®-Geräte mit Mikrofokusröhre und Proportionalzählrohr sind ideal für die Kontrolle von Teilen, an denen kleine Strukturen gemessen werden. Typische Anwendungen sind Messungen an Leiterplatten, Steckkontakten und Elektronikbauteilen sowie die Kontrolle dünner Beschichtungen.

XDLM® Geräte sind mit vier wechselbaren Blenden und einem programmierbaren XY(Z)-Messtisch ausgerüstet. Damit sind sie auch ideal für die Prüfung von Massenteilen.

 
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